IQD石英晶體LFXTAL082130REEL的老化原因
來源:http://taiheth.com 作者:泰河盛電子 2024年04月16
IQD石英晶體LFXTAL082130REEL的老化原因
石英晶體的“老化”會導致頻率隨時間發(fā)生微小變化,客戶在設(shè)計電路時可能需要根據(jù)需要達到的總體規(guī)格考慮這種影響。石英晶振晶體老化的主要原因有兩個,一個是由于傳質(zhì),另一個是應(yīng)力。
石英晶體的“老化”會導致頻率隨時間發(fā)生微小變化,客戶在設(shè)計電路時可能需要根據(jù)需要達到的總體規(guī)格考慮這種影響。石英晶振晶體老化的主要原因有兩個,一個是由于傳質(zhì),另一個是應(yīng)力。
傳質(zhì)
器件封裝內(nèi)的任何不需要的污染都可能將材料轉(zhuǎn)移到晶體或從晶體轉(zhuǎn)移材料,從而導致石英坯料的質(zhì)量變化,從而改變器件的頻率。例如,用于安裝石英坯料的導電環(huán)氧樹脂可能會產(chǎn)生“排氣”,這可能會在密封晶體封裝內(nèi)的惰性氣氛中產(chǎn)生氧化材料,因此必須很好地控制這一生產(chǎn)過程。理想情況下,制造方法盡可能干凈,以消除任何影響并產(chǎn)生良好的老化效果。
強調(diào)
這可能發(fā)生在晶體的各種成分中,包括石英坯料的加工、環(huán)氧樹脂安裝粘合劑的固化、晶體安裝結(jié)構(gòu)和器件中使用的金屬電極材料的類型。加熱和冷卻也會由于不同的膨脹系數(shù)而產(chǎn)生應(yīng)力。當系統(tǒng)放松時,系統(tǒng)中的應(yīng)力通常會隨著時間的推移而變化,這可能會導致頻率的變化。
實踐中的老齡化
當觀察晶體的老化測試結(jié)果時,可以看出頻率的變化通常在第一年最大,并隨著時間的推移而衰減。然而,必須注意的是,例如,如果設(shè)備規(guī)定為每年最大±5ppm;這并不意味著5年后的老化將是±5ppm×5年,即±25ppm。在實踐中,示例中的±5ppm老化裝置在運行的第一年可能僅為±1ppm至±2ppm貼片晶振,然后在隨后的幾年中減少。通常使用一般的“指南”來衡量10年內(nèi)最大±10ppm的晶體老化,盡管事實上通常遠低于此。無法預測設(shè)備的確切老化,因為即使是在同一時間由同一批石英制成的零件也會表現(xiàn)出略有不同的老化特性。
生產(chǎn)過程必須從一個零件到另一個零件保持一致,從石英坯料的制造、電極尺寸及其放置,到用于安裝石英的環(huán)氧樹脂及其固化熱輪廓,所有這些都會對頻率產(chǎn)生輕微影響。根據(jù)內(nèi)部原因,設(shè)備可能會出現(xiàn)負老化或正老化,盡管同一批次的零件往往會出現(xiàn)類似的結(jié)果。一般來說,超過90%的制造零件的老化效應(yīng)是負面的
生產(chǎn)過程必須從一個零件到另一個零件保持一致,從石英坯料的制造、電極尺寸及其放置,到用于安裝石英的環(huán)氧樹脂及其固化熱輪廓,所有這些都會對頻率產(chǎn)生輕微影響。根據(jù)內(nèi)部原因,設(shè)備可能會出現(xiàn)負老化或正老化,盡管同一批次的零件往往會出現(xiàn)類似的結(jié)果。一般來說,超過90%的制造零件的老化效應(yīng)是負面的
加速老化
通常的行業(yè)慣例是,通過在高溫下浸泡設(shè)備并在相關(guān)時間間隔測量頻率移動,使用加速老化過程來預測長期頻率移動。使用被動測試(即無電源測試)測試晶體是正常的。使用的一般規(guī)則是,將晶體在+85°C下浸泡30天相當于在正常室溫下老化1年。如果該測試延長足夠的時間,則可以用圖形繪制記錄的數(shù)據(jù),以便通過外推法預測未來的長期老化。
頻率調(diào)整
請注意,進口晶振石英的老化有效地改變了晶體的頻率容差,并且不會在很大程度上直接影響石英在溫度下的穩(wěn)定性,因為該參數(shù)由所用石英的“切角”決定。如果使用具有電壓控制功能的石英振蕩器,如VCXO、TCXO或OCXO,則可以將輸出頻率調(diào)整回其標稱指定值
設(shè)計
使用晶體或振蕩器設(shè)計電路的工程師通常會知道他們的設(shè)備在特定時間段內(nèi)必須達到的總體穩(wěn)定性數(shù)字。隨著器件的公差和/或穩(wěn)定性降低,老化就變得更加重要。例如,使用溫度穩(wěn)定性為±1ppm的TCXO將需要將老化保持在相對較小的值。然而,如果設(shè)計的總頻率移動容限為±200ppm,并且使用了額定值為±100ppm的設(shè)備,則可以有效地忽略少量老化。
制造商零件編碼 | 制造商 | 晶振系列 | 描述 |
LFXTAL059597REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 32.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL081613REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 32.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL082130REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 37.4000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL082125REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 25.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL073170REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 32.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL082127REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 27.1200MHZ 8PF SMD |
LFXTAL069527REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 40.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL059627REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 38.4000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL081620REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 48.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL081610REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 27.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL081608REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 24.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL069526REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 32.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL082131REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 38.4000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL082129REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 32.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL059596REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 30.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL051643REEL | IQD晶振 | IQXC-25 | CRYSTAL 32.7680KHZ 9PF SMD |
LFXTAL071262REEL | IQD晶振 | IQXC-42 AUTO | CRYSTAL 32.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL050789REEL | IQD晶振 | IQXC-25 | CRYSTAL 32.7680KHZ 12.5PF SMD |
LFXTAL081612REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 30.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL081614REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 26.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL059632REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 40.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL078377REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 26.0000MHZ 12PF SMD |
LFXTAL081781REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 16.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL069493REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 24.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL072543REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 27.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL072541REEL | IQD晶振 | IQXC-26 | CRYSTAL 27.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL071266REEL | IQD晶振 | IQXC-42 AUTO | CRYSTAL 48.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL069494REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 25.0000MHZ 10PF SMD |
LFXTAL082132RL3K | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 40.0000MHZ 8PF SMD |
LFXTAL059591REEL | IQD晶振 | IQXC-42 | CRYSTAL 26.0000MHZ 10PF SMD |
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